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尼克斯QuaNix4200/4500涂層測厚儀使用說明

發(fā)布時間： 2012-05-07　　點擊次數(shù)： 4352次

尼克斯QuaNix4200/4500涂層測厚儀簡介：
QuaNix4200/QuaNix4500涂層測厚儀是利用霍爾原理而設(shè)計的探頭與主機(jī)一體化式金屬涂層測厚儀。QuaNix4200涂層測厚儀用于測量鐵磁性基體（如鋼、鐵）上的涂層，如油漆、各種防腐層、粉噴涂等。QuaNix4500涂層測厚儀帶Fe/NFe兩用探頭，既可用于測量磁性基體，又可測量非磁性基體如銅、鋁、合金等上的涂層。
尼克斯QuaNix4200/4500涂層測厚儀如何測量
將儀器探頭垂直接觸被測物的表面，儀器將自動開機(jī)并測得數(shù)據(jù)。注意：測量時務(wù)必要使探頭垂直接觸被測物表面。
尼克斯QuaNix4200/4500涂層測厚儀如何調(diào)零
儀器在測量前，為減少測量誤差，應(yīng)在基體上取零位作基準(zhǔn)?？梢杂脹]有涂層的工件表面也可以用隨儀器帶基體。用儀器測量基體，如顯示0，表明已是零位，不用再調(diào)零。如不顯示0，則需要調(diào)零。將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上，不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開，聽到響聲液晶顯示一組數(shù)后，拿開儀器，再次聽到響聲后，液晶顯示0，調(diào)零完畢。注意：由于工件表面粗糙度的原因，調(diào)零后，再測時不一定是的零位，這是正常現(xiàn)象。
尼克斯QuaNix4500涂層測厚儀Fe/NFe探頭轉(zhuǎn)換
QuaNix4500為兩用探頭，當(dāng)測量不同的基體時，需要對磁性模式（Fe）與非磁性模式（NFe）進(jìn)行轉(zhuǎn)換。在開機(jī)狀態(tài)下，按紅鍵進(jìn)入菜單選項，繼續(xù)按紅鍵選擇Fe或者Nfe選項短暫停留后，就已選擇相應(yīng)的測量模式，也可以選擇FeNfe選項，短暫停留后就進(jìn)入自動識別基體模式（推薦使用）！
菜單中Averaging為平均值選項，在Averaging選項短暫停留后出現(xiàn)ON和OFF兩個選項，在ON選項下短暫停留后進(jìn)入平均值測量模式，測量時所顯示讀數(shù)為zui后三次讀數(shù)的平均值，在OFF選項下短暫停留后退出平均值測量模式。
尼克斯QuaNix4200/4500涂層測厚儀顯示：
Fe：測量鐵磁性基體模式
NFe：測量非磁性基體模式
Err：操作失誤
INFI：探頭模式與被測基體不符
BAT：電量不足，需換電池
尼克斯QuaNix4200/4500涂層測厚儀維護(hù)和維修
QuaNix4200/4500測厚儀采用的電子技術(shù),能滿足各種不同的測量要求。的設(shè)備,堅固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點使得該儀器具有廣泛的應(yīng)用。只要正確使用和維護(hù),它的壽命會很長。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與潮氣,具有化學(xué)腐蝕性的物質(zhì)或氣體接觸。使用完畢,儀器應(yīng)被放回具有保護(hù)性和便于挪動的盒子中。溫度的劇烈變化將影響測量結(jié)果,所以不要直接把儀器暴露在強(qiáng)烈的陽光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對大多數(shù)溶劑具有抵抗性,但不能保證少數(shù)化學(xué)物質(zhì)的腐蝕,這時處理的方法僅僅是用一塊潮濕,柔軟的布擦洗儀器。只有探針保持清潔,才能獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),所以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長期不被使用時, 為避免因漏電而損壞,要取出電池。出現(xiàn)故障時,請不要自行修理,我們的維修部門隨時竭誠為您服務(wù)。
尼克斯QuaNix4200/4500涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)：
磁性基體 Fe探頭（4200/4500）
非磁性基體 NFe探頭（4500）
測量范圍 Fe:0-3000um/NFe:0-3000um
精度 0-50um:≤+/-1um
50-1000um:≤+/-1.5%讀數(shù)
1000-3000um≤+/-3%
zui小接觸面 10×10mm
zui小曲率半徑凸面：3mm
凹面：25mm
zui小機(jī)體厚度 Fe:0.2mm/NFe:0.05um
溫度補(bǔ)償范圍 -10℃-60℃
測量范圍 0℃-50℃
顯示 LCD液晶
探頭紅寶石固定式
電源 2×1.5V干電池
尺寸 100×60×27mm
重量 105g
尼克斯QuaNix4200/4500涂層測厚儀注意事項
測量應(yīng)為點接觸，嚴(yán)禁將探頭置于被測物表面滑動。
每次測量間隔時間應(yīng)大于幾秒鐘，且儀器應(yīng)離開被測物10cm以上，再進(jìn)行下一次測量。
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